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集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试的研究
 
     论文目录
 
摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
第一章 绪论第8-12页
   ·研究背景与课题意义第8-9页
   ·本论文的主要工作第9-10页
   ·论文结构安排第10-12页
第二章 电磁兼容概论第12-24页
   ·电磁兼容概念第12-13页
   ·电磁干扰的危害性第13页
   ·研究电磁兼容测试技术的意义第13-14页
   ·电磁兼容技术的发展第14-17页
     ·电磁兼容技术的发展史第14-15页
     ·电磁兼容测试技术在我国的发展状况第15-17页
   ·电磁兼容标准第17-24页
     ·国际电工委员会(IEC)介绍第17-19页
     ·电磁兼容标准分类第19-21页
     ·IEC61000系列标准介绍第21-22页
     ·IEC62215系列标准介绍第22页
     ·电磁兼容测试分类第22-24页
第三章 解决电磁干扰的措施与系统级EFT抗扰度测试第24-35页
   ·电磁干扰第24-26页
     ·电磁干扰的性质第24-25页
     ·电磁干扰三要素第25-26页
   ·解决电磁干扰的措施第26-27页
   ·系统级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试第27-35页
     ·测试等级第28-29页
     ·测试设备第29-33页
     ·测试步骤第33-35页
第四章 集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试研究第35-45页
   ·集成电路的电磁兼容问题第35页
   ·集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度的测试环境第35-36页
     ·耦合路径第35页
     ·瞬态抗扰度环境第35-36页
   ·集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试方法第36-45页
     ·测试等级第36页
     ·测试仪器第36-43页
     ·测试流程第43页
     ·实验室环境第43-44页
     ·异常等级设置第44-45页
第五章 对集成电路级EFT抗扰度测试的研究第45-55页
   ·集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试中出现的问题第45页
   ·实验设计第45-48页
     ·实验方案第45-46页
     ·测试PCB板上元器件的描述第46-47页
     ·测试期间芯片内部工作模式的设置第47-48页
     ·测试结果记录方法第48页
   ·测试结果与分析第48-55页
     ·测试结果第48-54页
     ·测试结果分析第54-55页
第六章 总结与展望第55-57页
   ·本文总结第55页
   ·未来研究工作的展望第55-57页
参考文献第57-59页
致谢第59-60页
攻读硕士学位期间参与发表的论文第60页

 
 
论文编号BS385,这篇论文共60
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